Диссертация
№ АААА-В16-416011240081-8

Рентгеновская фотоэлектронная дифракция и голография поверхностей слоистых кристаллов халькогенидов титана и висмута

12.01.2016

Цель исследования - развитие методов рентгеновской фотоэлектронной дифракции и голографии для структурного анализа поверхности твердых тел. В качестве объектов исследования выступают поверхности (111) слоистых кристаллов халькогенидов 1T-TiSe₂, Bi₂X₃ (X: Se, Te). В случае халькогенидов висмута изучаются как чистая поверхность, так и ее модификация железом, кобальтом и индием. Разработана методика исследования структуры поверхности комбинацией методов рентгеновской фотоэлектронной дифракции (РФД) и фотоэлектронной голографии (ФГ). Установлено, что имеет место структурная деформация верхних слоев поверхности (001) 1T-TiSe₂. Это связано с релаксационными эффектами на поверхности, структурными дефектами и отслаиванием верхнего Se-Ti-Se структурного блока от матрицы кристалла. Деформация решетки верхнего структурного слоя 1T-TiX₂ (X : S, Se) в виде растяжения в базисной плоскости или сжатия вдоль нормали к поверхности приводит к снижению коэффициента c0/a0, что объясняет наблюдаемую с помощью метода фотоэлектронной спектроскопии с угловым разрешением энергетическую щель между Se(S) p и Ti 3d зонами. Установлено, что существующая гипотеза образования бислоев висмута на поверхности (111) Bi₂Se₃ при сколе в вакууме неверна, на поверхности слоистых кристаллов халькогенидов висмута расположен пятислойный структурный блок с атомами халькогена (Se, Te) в первом слое. При этом релаксация поверхностных слоев (111) Bi₂Te₃ и (111) Bi₂Se₃ колеблется в пределах нескольких процентов, что укладывается в рамки точности метода. При модификации поверхности индием, он располагается в решетке Bi₂Se₃ на позициях висмута. В результате адсорбции Fe на поверхность (111) Bi₂Te₃ (в вакууме) часть атомов железа проникает под поверхность халькогенида висмута и занимает междоузельные позиции под первым и вторым слоями теллура. Предложенная на основе РФД и ФГ данных модель поверхностного интерфейса Fe/(111)Bi₂Te₃ хорошо согласуется с результатами квантовохимических расчетов. Определены параметры структуры ряда кристаллов слоистых халькогенидов - (001) TiSe₂, (111) Bi₂Te₃, (111) Bi₂Se₃, Bi₂Se₃(In10%) и адсорбционных структур - Co, Fe на (111) Bi₂Te₃, (111) Bi₂Se₃.
ГРНТИ
29.19.11 Дефекты кристаллической структуры
29.19.04 Структура твердых тел
Ключевые слова
ФОТОЭЛЕКТРОННАЯ ДИФРАКЦИЯ
ФОТОЭЛЕКТРОННАЯ ГОЛОГРАФИЯ
ТОПОЛОГИЧЕСКИЕ ИЗОЛЯТОРЫ
СТРУКТУРА ПОВЕРХНОСТИ
Детали

Автор
Огородников Илья Игоревич
Вид
Кандидатская
Целевое степень
Кандидат физико-математических наук
Дата защиты
04.12.2015
Организация защиты
Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Уральский федеральный университет имени первого Президента России Б.Н. Ельцина"
Организация автора
Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт химии твердого тела Уральского отделения Российской академии наук
Похожие документы
Рентгеновская оптика сложных структурированных сред
0.919
ИКРБС
Рентгеновская дифрактометрия и спектроскопия новых функциональных материалов и структур
0.916
ИКРБС
Рентгеновская дифрактометрия и спектроскопия новых функциональных материалов и структур
0.914
ИКРБС
Дифракционная электронная микроскопия начальных стадий роста необычных трансротационных микрокристаллов в аморфных плёнках
0.913
ИКРБС
СТМ-визуализация атомной и электронной структуры поверхности и приповерхностных слоев многокомпонентных систем
0.913
ИКРБС
Рентгеновские фотоэлектронные спектры и электронная структура новых функциональных материалов
0.913
ИКРБС
Исследование свойств наноструктур, формирующихся в результате самоорганизации атомов и молекул
0.910
ИКРБС
по теме: "1.3. Изучение структуры и свойств наноматериалов с использованием электронов и атомно-силовой микроскопии" (заключительный)
0.909
ИКРБС
Рентгеновская дифрактометрия и спектроскопия новых функциональных материалов и структур
0.908
НИОКТР
Рентгеновская дифрактометрия и спектроскопия новых функциональных материалов и структур
0.907
НИОКТР