Методы и средства измерения тепловых параметров цифровых интегральных схем с использованием температурной зависимости времени задержки распространения сигнала

Предложены и исследованы новые способы и средства измерения тепловых параметров цифровых интегральных схем по переходным тепловым характеристикам с использованием температурной зависимости времени задержки распространения сигнала. Разработан новый алгоритм анализа переходных тепловых характеристик с последующим расчетом тепловых параметров цифровых интегральных схем. Приведено описание структуры и принципа действия аппаратно-программного комплекса с микропроцессорным управлением для измерения тепловых параметров цифровых интегральных схем, алгоритма, структуры и функциональных возможностей управляющей программы микроконтроллера, приведены оценки инструментальной погрешности и быстродействия экспериментальной установки. Представлены результаты расчета тепловых параметров цифровых интегральных схем нескольких типов, включая ПЛИС. Результаты внедрены в УФИРЭ им. В.А. Котельникова РАН.