Диссертация
№ 421071300028-8

Метаморфные гетероструктуры InSb/InAs/In(Ga,Al)As на подложках GaAs для оптоэлектроники среднего инфракрасного диапазона 2.0–4.5 мкм

13.07.2021

Цель работы заключалась в разработке технологии роста методом молекулярно-пучковой эпитаксии на подложках GaAs(001) и конструкции низкодефектных (не более 107 см-2) метаморфных двойных гетероструктур InAlAs/InGaAs с квантоворазмерной W-образной активной областью InSb/InAs/InGaAs, обладающих высокой эффективностью люминесценции, для источников излучения среднего инфракрасного диапазона (2.0–4.5 мкм), а также комплексное исследование их структурных, электронных и люминесцентных свойств. Развита технология молекулярно-пучковой эпитаксии, позволяющая создавать на подложках GaAs(001) метаморфные буферные слои InxAl1-xAs (xmax ≥ 0.75) с корневым профилем изменения состава, а также гетероструктуры InSb/InAs/In(Ga,Al)As на его основе, характеризующиеся малой шероховатостью поверхности и низкой плотностью протяжённых дефектов (не более 107 см-2) в активной области. Исследованы процессы релаксации упругих механических напряжений в метаморфных гетероструктурах InSb/InAs/In(Ga,Al)As/GaAs(001) в зависимости от конструкции метаморфного буферного слоя, состава виртуальной подложки и дизайна активной области. Проведена оптимизация конструкции метаморфных гетероструктур, позволившая достичь баланса упругих напряжений и избежать их релаксации в активной области структур. Исследованы электронные и люминесцентные свойства оптимизированных метаморфных гетероструктур InSb/InAs/In(Ga,Al)As/GaAs(001) в зависимости от их конструкции, условий роста и структурных свойств. Методом молекулярно-пучковой эпитаксии получены метаморфные гетероструктуры InSb/InAs/In(Ga,Al)As/GaAs(001), демонстрирующие фотолюминесценцию и электролюминесценцию в среднем инфракрасном диапазоне 2.0–4.5 мкм со значением внутренней квантовой эффективности ~5% при комнатной температуре. Разработаны и реализованы методом молекулярно-пучковой эпитаксии светодиодные и лазерные гетероструктуры InSb/InAs/In(Ga,Al)As/GaAs(001), излучающие в среднем инфракрасном диапазоне (2.0–4.5 мкм).
ГРНТИ
29.19.13 Механические свойства твердых тел
29.19.19 Методы исследования кристаллической структуры и динамики решетки
47.13.11 Технология и оборудование для производства полупроводниковых приборов и приборов микроэлектроники
29.19.22 Физика наноструктур. Низкоразмерные структуры. Мезоскопические структуры
29.19.31 Полупроводники
Ключевые слова
электролюминесценция
фотолюминесценция
источники среднего инфракрасного диапазона
наногетероструктуры
квантовые ямы
прорастающие дислокации
молекулярно-пучковая эпитаксия
nSb
InAs
метаморфные гетероструктуры
Детали

Автор
Чернов Михаил Юрьевич
Вид
Кандидатская
Целевое степень
Кандидат физико-математических наук
Дата защиты
24.06.2021
Организация защиты
ФЕДЕРАЛЬНОЕ ГОСУДАРСТВЕННОЕ БЮДЖЕТНОЕ УЧРЕЖДЕНИЕ НАУКИ ФИЗИКО-ТЕХНИЧЕСКИЙ ИНСТИТУТ ИМ. А.Ф. ИОФФЕ РОССИЙСКОЙ АКАДЕМИИ НАУК
Организация автора
ФЕДЕРАЛЬНОЕ ГОСУДАРСТВЕННОЕ БЮДЖЕТНОЕ УЧРЕЖДЕНИЕ НАУКИ ФИЗИКО-ТЕХНИЧЕСКИЙ ИНСТИТУТ ИМ. А.Ф. ИОФФЕ РОССИЙСКОЙ АКАДЕМИИ НАУК
Похожие документы
Молекулярно-пучковая эпитаксия и свойства метаморфных наногетероструктур с квантовыми ямами InSb/InAs/In(Ga,Al)As на подложках GaAs для эффективных источников излучения среднего ИК диапазона
0.946
НИОКТР
Разработка научных основ эпитаксии наногетероструктур AIIIBV для нового поколения ИК-фотоприемных устройств, в том числе и на подложках кремния
0.946
ИКРБС
Разработка научных основ эпитаксии наногетероструктур AIIIBV для нового поколения ИК-фотоприемных устройств, в том числе и на подложках кремния
0.940
ИКРБС
Формирование интерфейсов гетеропереходов InAsSb/AlSb
0.937
РИД
Формирование интерфейсов гетеропереходов InAsSb/AlSb
0.937
РИД
Формирование интерфейсов гетеропереходов InAsSb/AlSb
0.937
РИД
Разработка методики получения экспериментальных образцов фотоприемников с фоточувствительной областью InAsSbх (0.3<х<0.35) и длинноволновой границей фоточувствительности около 9.5 мкм, включающая процессы выращивания многослойных гетероструктур, содержащих слой InAsSbх (0.3<х<0.35) и постростовой обработки.Изготовление экспериментальных образцов фотоприемников с фоточувствительной областью InAsSbх (0.3<х<0.35) и длинноволновой границей фоточувствительности около 9.5 мкм. Проведение испытаний и исследование экспериментальных образцов фотоприемников с фоточувствительной областью InAsSbх (0.3<х<0.35) и длинноволновой границей фоточувствительности около 9.5 мкм, включающие измерение вольт-амперных и спектральных характеристик в широком интервале температур.Исследование методом динамической вторично-ионной масс-спектрометрии распределения по толщине содержания основных и примесных химических элементов в фрагментах гетероструктур на основе твердых растворов InAsSbP c фоточувствительной
0.935
ИКРБС
Эпитаксиальное выращивание гетероструктур нового типа на основе соединений А2В6 и создание на их основе полупроводникового дискового лазера, излучающего на основной частоте в сине-зеленом диапазоне спектра
0.934
ИКРБС
Излучающие и фоточувствительные гетероструктуры на длины волн более 1 мкм, выращенные методом МОС-гидридной эпитаксии на подложках GaAs и Si
0.933
Диссертация
ИНФРАКРАСНАЯ ОПТОЭЛЕКТРОНИКА НА ОСНОВЕ УЗКОЗОННЫХ НАНОГЕТЕРОСТРУКТУР ПОЛУПРОВОДНИКОВ A3B5
0.933
ИКРБС