Разработка алгоритмов тепловой дефектометрии металлических покрытий и композиционных материалов с различной оптической прозрачностью

Требования к контролю качества материалов и изделий в авиакосмической промышленности особенно высоки по ряду очевидных причин. При этом, зачастую, для НК применяют одновременно несколько методов испытаний. Инфракрасный термографический, или тепловой контроль (ТК) зарекомендовал себя как метод предварительного обследования, в то время как для количественной оценки параметров дефектов (дефектометрии) обычно применяют другие, более точные методы. Вместе с тем, современная аппаратура данного метода, а также возможности компьютерного анализа позволяют перейти к дефектометрии и количественной оценке в рамках ТК, что позволяет снизить общую стоимость и временные затраты на НК. В ходе проведения диссертационного исследования разработаны 3 новых метода количественной оценки параметров дефектов, а именно: метод оценки глубины дефектов в полупрозрачных материалах, основанный на применении нейронных сетей; метод оценки глубины дефектов с учетом их конечного размера, основанный на методе нелинейной подгонки к аналитической модели; метод оценки толщины покрытий, основанный на анализе кажущейся тепловой инерции.