Метод и средство измерений геометрических параметров формы выпуклых сферических и асферических поверхностей

В работе предлагается решение важной задачи, которая заключается в разработке средства измерений параметров отклонений формы выпуклых поверхностей размером до 250 мм, реализующего интерференционный метод измерений, обеспечивающий определение отклонения формы через характеристики интерференционной картины. Создано универсальное интерференционное средство измерений параметров отклонений формы выпуклых оптических поверхностей, реализующее схему с ортогональным ходом лучей, отличающееся отсутствием дополнительных элементов, формирующих сферический или асферический волновой фронт. В интерференционной установке с ортогональным ходом лучей получен способ компенсации составляющей погрешности измерений, связанной с деформацией опорного волнового фронта.