ИССЛЕДОВАНИЕ И РАЗВИТИЕ БАЗОВОЙ ТЕХНОЛОГИИ ОЦЕНКИ И ПРОГНОЗИРОВАНИЯ СТОЙКОСТИ К ВОЗДЕЙСТВИЮ ОТДЕЛЬНЫХ ЯДЕРНЫХ ЧАСТИЦ НА ЭТАПАХ РАЗРАБОТКИ И ПРОИЗВОДСТВА ФУНКЦИОНАЛЬНО-СЛОЖНОЙ ТВЕРДОТЕЛЬНОЙ ЭЛЕКТРОННОЙ КОМПОНЕНТНОЙ БАЗЫ

Проведены: адаптация существующих экспериментальных комплексов – пикосекундной лазерной установки, стенда, формирующих поле пучков короткопробежных ионов, рабочего места для подготовки образцов ЭКБ к проведению испытаний; выбор параметров-критериев работоспособности исследуемых изделий; разработка проекта общей методики оценки стойкости выбранных типов изделий, перечня представителей изделий микроэлектроники, СВЧ- и мощных полупроводниковых приборов, выбранных для исследований; выбор рационального состава испытаний; разработка программ-методик испытаний выбранных типов изделий; адаптация существующего оборудования и специализированной оснастки, специализированного программного обеспечения для проведения исследований и испытаний; подготовка, исследования и испытания выбранных изделий; обработка результатов исследований и испытаний. Доработаны существующие экспериментальные комплексы; определены параметры-критерии работоспособности исследуемых изделий; разработан проект общей методики оценки стойкости выбранных типов изделий; согласован с заказчиком перечень изделий; определен рациональный состав испытаний; разработаны программы-методики исследований и испытаний выбранных типов изделий; проведена адаптация существующего оборудования и оснастки, специализированного программного обеспечения; обработаны результаты исследований и испытаний, по результатам которых оформлены протоколы.