Разработка радиофизических методов диагностики тонкопленочных магнитных материалов - активных сред электрически управляемых устройств СВЧ-электроники

Цель: развитие радиофизических методов исследования и диагностики локальных характеристик магнитных тонких пленок, тонкопленочных нано- и гетероструктур для решения важной научной проблемы, связанной с изучением природы свойств рассматриваемых объектов и возможности целенаправленного синтеза магнитных материалов, обладающих заданными управляемыми характеристиками. Проведены исследования свойств двухмерной модели пленки из плотноупакованных магнитных наночастиц (магнитных диполей). Даны рекомендации для разработки методики определения структурных и магнитных параметров тонких нанокристаллических пленок. С использованием метода ферромагнитного резонанса предложены методика и компьютерная программа определения локальных структурных и магнитных параметров тонких нанокристаллических пленок. На основе феноменологической модели тонкой монокристаллической пленки с малым углом разориентации кристаллографической плоскости (111) относительно ее поверхности разработана методика определения параметров магнитной анизотропии образцов и углов разориентации кристаллографической плоскости подложек по измеренным угловым зависимостям поля ферромагнитного резонанса.