Высокоразрешающая дифракционная и спектральная диагностика наноструктурированных материалов с использованием рентгеновского и синхротронного излучения

Цель: получение новых знаний при решении экспериментальных и теоретических задач рентгеновской дифрактометрии и ультрамягкой рентгеновской спектроскопии. В рамках рекуррентных соотношений рассмотрена динамическая дифракция рентгеновских лучей в латеральном кристалле трапецеидального сечения. На основе полученного решения проведено численное моделирование углового распределения интенсивности рентгеновского рассеяния. Выполнен сравнительный анализ результатов динамической дифракции и кинематического приближения. Показано, что для кристаллов малых размеров результаты динамической и кинематической дифракции совпадают. Для кристаллов больших размеров имеется заметное различие в угловом распределении интенсивностей рассеяния. Рассмотрена дифракция рентгеновских лучей на толстом кристалле с поверхностным рельефом применительно к трехосевой дифрактометрии. В рамках рекуррентных соотношений разработан подход, описывающий динамическую дифракцию на произвольном рельефе. Выполнен сравнительный анализ рассеяния рентгеновских лучей от трапецеидального, синусоидального и параболического рельефа. Проведено численное моделирование для разных типов поверхностных решеток. Методом NEXAFS-спектроскопии с применением синхротронного излучения исследованы многостенные углеродные нанотрубки. Использована методика подавления немонохроматического фона в падающем монохроматическом пучке синхротронного излучения и абсолютных измерений сечений поглощения методом полного электронного выхода. Получены данные о параметрах наноразмерного покрытия и внешних слоев углеродной нанотрубки MWCNT/(Mo,W).