Разработка методов структурно-параметрической идентификации и автопостроения поведенческих и мультифизических моделей интегральных схем и разработка на их базе программно-аппаратного измерительного комплекса

Цель исследования - разработка методов синтеза, автоматизации и применения комплексных поведенческих моделей изделий электронной техники (интегральных схем) для определения и прогнозирования их параметров и характеристик, что позволит реализовать новый подход к организации и проведению испытаний интегральных микросхем на примере высокочастотных импульсных преобразователей напряжения. Представлен обзор методов и технических средств, с помощью которых возможно наиболее эффективно решить задачу построения автоматизированного тестового оборудования для контроля параметров интегральных микросхем. Также приведены полученные предварительные научные результаты и подходы к созданию поведенческих моделей и научно-технические решения, реализованные в экспериментальном образце аппаратно-программного измерительного комплекса для тестирования и измерения параметров интегральных микросхем высокочастотных импульсных преобразователей напряжения.