Разработка комплементарных методов измерения и анализа многокомпонентных наноразмерных гетеросистем

Выполнен анализ возможности использования данных локальных и интегральных методов исследований на примере рентгеновских методов, а также методов электронной микроскопии. Выполнен литературный обзор уже существующих работ по данной тематике, который показал высокую перспективность и преимущества предлагаемого подхода. В результате совместного использования различных исследовательских методик получены данные о реальной структуре исследуемых образцов. Разработан подход к совместному анализу данных резонансной рентгеновской рефлектометрии, полученной при различных длинах волн, при использовании в качестве первоначальной модели результатов локальных методов исследования, в частности электронной микроскопии. Подход был успешно использован при исследовании металлических периодических структур на основе Fe/Cr/Gd и Dy/Gd, позволив получить данные о морфологии образцов с точностью, недоступной для каждого из методов по отдельности.