Отчёт за 2019-2020 гг. по НИР

Выполнены работы соответствующие плану исследований на первый год. Выполнены и представлены патентный поиск и обзор литературы, охватывающие широкий круг теоретических и практических вопросов по теме исследования. Разработаны модель, метод и изготовлен макет линии передачи для измерения Sпараметров экранирующих корпусов, которым подтверждена возможность измерения электромагнитной эффективности экранирования (ЭЭ) без размещения внутриэкранирующего корпуса источников и рецепторов поля. Разработано и создано новоепрограммное обеспечение (ПО) на основе аналитических моделей, пригодное для оценки ЭЭкорпусов различных радиоэлектронных средств (РЭС), в том числе малогабаритных.Разработаны математические модели для вычисления частотно-зависимых сопротивлений апертур и эквивалентного сопротивления перфорированной в шахматном порядке стенки корпуса, а также модели для вычисления ЭЭ типовых экранирующих структур. Предложены аналитические модели для корпусов, заполненных композитным материалом, проводящими пластинами и печатными платами. Предложен полуаналитический метод для оценки ЭЭ корпусов с апертурой, заполненной диэлектрическим или магнитодиэлектрическим материалами. Усовершенствована аналитическая модель для анализа экранирующиххарактеристик плоских многослойных композитных экранов. Используя аналитические модели и численные методы, выполнена оценка ЭЭ типовых среднегабаритных и малогабаритных частично замкнутых экранирующих структур, с учетом электрофизических свойств материала. Выполнен анализ результатов взаимовлияния источника и рецептора с расположенным между ними электромагнитным барьером, при изменении его геометрических параметров и электрофизических свойств в широком диапазоне значений. Выполнен анализ результатов взаимовлияния источника и рецептора, располагающихся в экранирующей конструкции или в непосредственной от него близости. Показано, что экранирующие конструкции оказывают существенное влияние на амплитуду напряжения, наводимого на близко расположенные рецепторы. Выполнена разработка моделей и конструкций uTEM- и CTEM-камер.