ИКРБС
№ АААА-Б20-220102790051-1Рентгеноспектральное исследование атомного и электронного строения пористых органосиликатных стекол с использованием синхротронного излучения(итоговый)
07.05.2020
Проведено исследование формирования, самоорганизации и свойств пористых low-k-органосиликатных стекол (ОСС) с целью выявления факторов, определяющих величину их диэлектрической проницаемости и проводимости. Для этого изучено электронное и атомное строение ОСС в широком диапазоне значений диэлектрической проницаемости в зависимости от метода синтеза и способа создания пористости методом рентгеновской спектроскопии отражения с использованием синхротронного излучения. Впервые в одних экспериментальных условиях изучено перераспределение состояний валентной зоны и зоны проводимости ОСС, синтезированных как классическим методом синтеза с использованием жертвенного порообразователя, так и современными передовыми методами без использования порообразователя. Установлена взаимосвязь между образованием конкретных химических связей (Si-CH₃, C=O, OH-C=O) и изменением положения потолка валентной зоны. Разработанный подход впервые применен к изучению ОСС.
ГРНТИ
29.19.16 Физика тонких пленок. Поверхности и границы раздела
29.19.33 Диэлектрики
29.19.05 Химическая связь и кристаллические поля
Ключевые слова
low-k диэлектрики
органосиликатные стекла
пористость
рентгеновская спектроскопия отражения
механизм понижения диэлектрической проницаемости
активация поверхности
ионное травление
Детали
Заказчик
ФЕДЕРАЛЬНОЕ ГОСУДАРСТВЕННОЕ БЮДЖЕТНОЕ УЧРЕЖДЕНИЕ "РОССИЙСКИЙ ФОНД ФУНДАМЕНТАЛЬНЫХ ИССЛЕДОВАНИЙ"
Исполнитель
федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Санкт-Петербургский государственный университет"
Похожие документы
Рентгеноспектральное исследование атомного и электронного строения пористых органосиликатных стекол с использованием синхротронного излучения
0.961
НИОКТР
Широкополосная спектроскопия low-k диэлектриков для создания новых методов контроля их электрофизических свойств и пористости структуры (промежуточный отчёт, этап 2)
0.912
ИКРБС
Рентгеноструктурный анализ многокомпонентных аморфно-кристаллических систем: развитие методов и структура композиционных материалов на основе жидкого стекла
0.911
ИКРБС
Пористые матрицы на основе оксидов металлов для устройств оптоэлектроники и разработка методик их анализа
0.908
НИОКТР
Электроповерхностные характеристики высококремнеземных пористых стекол и кварцоидов, модифицированных соединениями металлов
0.908
НИОКТР
Электроповерхностные характеристики высококремнеземных пористых стекол и кварцоидов, модифицированных соединениями металлов
0.908
НИОКТР
Атомное и электронное строение, электрические и оптические свойства композитных пленок Si-SiOx
0.908
Диссертация
ПОРИСТЫЕ ДИЭЛЕКТРИКИ И СЕГНЕТОЭЛЕКТРИКИ ДЛЯ НОВЫХ ПОКОЛЕНИЙ УСТРОЙСТВ МИКРО- И НАНОЭЛЕКТРОНИКИ
0.908
ИКРБС
Пористые матрицы на основе оксидов металлов для устройств оптоэлектроники и разработка методик их анализа
0.907
ИКРБС
Исследование параметров пористой структуры материалов для датчиков уровня вакуума
0.907
НИОКТР