Исследование новых материалов, тонких пленок и наноструктур методами лазерной и колебательной спектроскопии и оптической микроскопии высокого и сверхвысокого пространственного разрешения

В рамках данной темы Государственного задания проводятся исследования, направленные на развитие методов широкодиапазонной оптической спектроскопии для исследования новых функциональных материалов, в том числе, тонких пленок, нанообъектов, композитов. Тема объединяет различные подходы, включающие широкий круг инструментов: фурье-спектроскопию высокого разрешения, ИК-спектроскопию, люминесцентную спектроскопию, флуоресцентную микроскопию сверхвысокого пространственного разрешения (в т.ч. трехмерные методики), комбинационное рассеяние света (КРС), нарушенное полное внутреннее отражение света (НПВО). Для получения новой информации о структуре и внутренней динамике в новых материалах экспериментальные исследования проводились в широком диапазоне температур от криогенных до комнатной. Полученные экспериментальные результаты были описаны в рамках существующих и вновь построенных теоретических моделей, проведены аналитические расчеты и первопринципное моделирование.