ИКРБС
№ 222112400034-9Исследование влияния материала подложки на структуру функциональных тонких пленок диоксида ванадия, полученных при помощи реактивного магнетронного распыления для применения в современных ИК-датчиках и СВЧ-переключателях
30.09.2021
В ходе работы над первым этапом проекта разработан метод синтеза, позволяющий получать поликристаллические тонкие (толщиной 100-200 нм) плёнки VO₂, обладающие высокой амплитудой перехода металл-диэлектрик (отношением сопротивлений в диэлектрическом и металлическом состояниях Rs/Rm) на различных типах подложек. Предложенный метод синтеза позволил получить плёнки VO₂ с амплитудами перехода в 2000, 1300 и 800 на подложках поли-, монокристаллического Al₂O₃ и кварца (SiO₂) соответственно. Для синтеза тонких плёнок применяется высокочастотное магнетронное распыление мишени из металлического ванадия в кислородно-аргоновой газовой смеси. Синтезированные плёнки подвергаются отжигу при температуре 720°С в нейтральной атмосфере. Отжиг позволяет добиться изменения стехиометрии, получив плёнку, близкую по составу к VO₂, и осуществить рекристаллизацию плёнки, что на порядок увеличивает амплитуду перехода за счёт роста размеров кристаллитов и связанного с этим уменьшения внутренних напряжений в плёнке. Проведённые исследования структуры и фазового состава напыляемых плёнок при помощи сканирующей электронной микроскопии, энергодисперсионной рентгеновской спектроскопии и спектроскопии комбинационного рассеяния позволили определить оптимальные параметры синтеза: концентрацию кислорода в газовой смеси, расстояние мишень-подложка, электрическое смещение на подложке, температуру подложки при напылении, а также температуру и время фазообразующего отжига.
Полученные плёнки были использованы в качестве активного элемента при создании управляемой частотно-селективной поверхности (ЧСП) для СВЧ диапазона. Топология ЧСП разработана при помощи электродинамического моделирования. Для создания ЧСП реализован технологический процесс фотолитографии, позволяющий получать структуры большой площади (400 см²) на гибкой полиимидной подложке. Управление частотным откликом ЧСП осуществляется путём изменения её температуры. Когда VO₂ находится в диэлектрическом состоянии (при комнатной температуре), ЧСП представляет собой полосовой фильтр с центральной частотой 8 ГГц и полосой пропускания по уровню 3 дБ в 4,83 ГГц. Когда VO₂ находится в металлическом состоянии (при 80 °С), ЧСП является отражателем: во всей измеренной полосе частот (2-18 ГГц) коэффициент отражения составляет -2,2 дБ.
ГРНТИ
29.19.15 Фазовые равновесия и фазовые переходы
29.35.47 Твердотельные приборы СВЧ-диапазона
29.19.16 Физика тонких пленок. Поверхности и границы раздела
Ключевые слова
Переход металл-диэлектрик
Переключаемые СВЧ устройства
Электронная микроскопия
Магнетронное распыление
Тонкие плёнки
Диоксид ванадия
Оксиды ванадия
Детали
Заказчик
ФЕДЕРАЛЬНОЕ ГОСУДАРСТВЕННОЕ БЮДЖЕТНОЕ УЧРЕЖДЕНИЕ "РОССИЙСКИЙ ФОНД ФУНДАМЕНТАЛЬНЫХ ИССЛЕДОВАНИЙ"
Исполнитель
ФЕДЕРАЛЬНОЕ ГОСУДАРСТВЕННОЕ АВТОНОМНОЕ ОБРАЗОВАТЕЛЬНОЕ УЧРЕЖДЕНИЕ ВЫСШЕГО ОБРАЗОВАНИЯ "МОСКОВСКИЙ ФИЗИКО-ТЕХНИЧЕСКИЙ ИНСТИТУТ (НАЦИОНАЛЬНЫЙ ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЙ УНИВЕРСИТЕТ)"
Бюджет
Средства фондов поддержки научной и (или) научно-технической деятельности: 700 000 ₽
Похожие документы
Исследование влияния материала подложки на структуру функциональных тонких пленок диоксида ванадия, полученных при помощи реактивного магнетронного распыления для применения в современных ИК-датчиках и СВЧ-переключателях
0.971
НИОКТР
Исследование влияния материала подложки на структуру функциональных тонких пленок диоксида ванадия, полученных при помощи реактивного магнетронного распыления для применения в современных ИК-датчиках и СВЧ-переключателях
0.971
НИОКТР
Исследование влияния материала подложки на структуру функциональных тонких пленок диоксида ванадия, полученных при помощи реактивного магнетронного распыления для применения в современных ИК-датчиках и СВЧ-переключателях
0.963
ИКРБС
Тонкие плёнки оксидов ванадия для электродинамических приложений
0.958
Диссертация
Оптически и электрически индуцированные фазовые переходы в нанопроводах и нанокомпозитах диоксида ванадия (этап 1, промежуточный)
0.950
ИКРБС
Методы и технологии выращивания высококачественных пленок
0.943
НИОКТР
Диэлектрическая спектроскопия легированных переходными металлами нанокристаллических пленок оксидов ванадия – базовых элементов систем оптической памяти
0.940
НИОКТР
Диэлектрическая спектроскопия легированных переходными металлами нанокристаллических пленок оксидов ванадия – базовых элементов систем оптической памяти
0.940
НИОКТР
Нанесение оксидов ванадия при помощи реактивного магнетронного распыления для создания тонкоплёночных элементов СВЧ техники
0.940
НИОКТР
Диэлектрическая спектроскопия легированных переходными металлами нанокристаллических пленок оксидов ванадия – базовых элементов систем оптической памяти
0.934
ИКРБС