ПРОВЕДЕНИЕ ПАТЕНТНЫХ ИССЛЕДОВАНИЙ НА ТЕХНИЧЕСКИЙ УРОВЕНЬ СИСТЕМЫ ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ПОДКРИТИЧНОСТИ ЯДЕРНЫХ ЭНЕРГЕТИЧЕСКИХ УСТАНОВОК И КРИТИЧЕСКИХ СБОРОК

Отчёт 55 с., 1 рис., 3 табл., 15 прил. Объект патентных исследований – технические решенияпо разработке методики и системы для измерения подкритичности ядерных энергетических установок и критических сборок. Цель работы – исследование технического уровня и тенденций развития объекта на основе патентной и другой информации. В ходе выполнения патентного исследования решены следующие задачи: - исследована сложившаяся патентная ситуация; - произведен отбор опубликованной научно-технической и патентной информации; - изучена динамика патентования в соответствующей области науки и техники; - выявлены страны и организации, имеющие высокую патентную активность. В результате проведения патентного поиска было выявлено 17 патентных документов, имеющих отношение к объекту исследования. После анализа отобранных патентных документов по устройству и способу его изготовления было установлено, что два документа наиболее близки к объекту исследования в части устройства – патент JP 2014228362 A и патент JP 2007121156 A. При сравнительном анализе технических решений, представленных в указанных патентных документах и присущих предмету патентного исследования, полных совпадений не выявлено. Таким образом, в результате анализа имеющейся патентной информации охранных документов, препятствующих производству и реализации объекта разработки, в РФ не обнаружено. По результатам поиска научно-технической информации было отобрано 12 источников, включая учебные пособия, статьи и книги, имеющие отношение к объекту исследования. В ходе анализа представленной в них информации был сделан вывод, что методика измерения, объект исследования, как таковой, не рассматривается в опубликованной научно-технической и патентной документации. Однако методика измерения является предметом научных исследований в ряде российских и зарубежных исследовательских учреждений.