ЭЛЕКТРИЧЕСКИЕ И МАГНИТНЫЕ ЯВЛЕНИЯ В НИЗКОРАЗМЕРНЫХ И ФРУСТРИРОВАННЫХ АНТИФЕРРОМАГНЕТИКАХ, СЛОИСТЫХ СТРУКТУРАХ И МАГНИТНЫХ ПЛЕНКАХ, НАНОКОМПОЗИТАХ, СИН НАНОСТРУКТУРАХ

Объектами нашего исследования являются гранулярные магнитные пленки (нанокомпозиты), пленки бората железа, диэлектрические кристаллы с магнитными ионами, расположенными на решетках с фрустрацией антиферромагнитного обмена, конкурирующими взаимодействиями, а также с квазиодномерными системами обменных связей. В рамках темы изучаются плоскостные микро- и нано туннельные структуры типа сверхпроводник – изолятор – нормальный металл – изолятор – сверхпроводник (СИНИС), интегрированные в матрицы антенн субмиллиметрового диапазона и мета материалы в виде плоских матриц из колец с размерами на порядок меньше длины волны. Также объектом исследования является полимер-фосфолипидная адсорбционная пленка на планарной границе вода – воздух и явление рассеяния волн на малых (по сравнению с длиной волны) частицах. В области методики проведена разработка сверхнизкотемпературного спектрометра электронного спинового резонанса, который пущен в работу. Цели работы состояли, во-первых, в исследованиях влияния кристаллической симметрии, пониженной размерности системы обменных связей и фрустрации обменного взаимодействия на магнитное упорядочение или спиновые корреляции в кристаллах и на спектры элементарных возбуждений. Во-вторых, в исследование особенностей магнитного резонанса в плёнках металл-диэлектрических нанокомпозитов. В-третьих, в анализе особенностей магнетизма и магнитной анизотропии тонких пленок FeBO3. В-четвертых, в изучении процессов протекания туннельного тока при низких температурах при воздействии высокочастотного облучения, приводящего к изменению распределения электронов проводимости нормального металла и, тем самым, изменению вольт-амперных характеристик СИНИС структур. В-пятых, целью является уточнение моделей полипептид-липидных структур на плоской границе вода – воздух, основанное на совместном анализе данных рентгеновской рефлектометрии с высоким пространственным разрешением, диаграмм сжатия и Вольт потенциала. Это позволяет количественно и достоверно описывать структуры поверхностных мезофаз амфифилов с нанометровым или субнанометровым разрешением. Наконец, в-шестых, в исследование явных формул для интегральных характеристик рассеяния, применимых для малых, по сравнению с длиной волны падающего излучения, рассеивателях.