ИКРБС
№ 225013005123-6Исследование физико-химических свойств компонентов многослойных структур на основе УНМ для совмещения технологическими процессами микроэлектронного производства
27.12.2024
Отчет содержит: 58 страниц, 21 рисунок, 5 таблиц, 52 источника.
Ключевые слова: функциональные тонкие пленки, пассивные элементы,
сверхпроводники, буферные слои, тонкие пленки, криоэлектроника.
Объектом исследования являются тонкие функциональные покрытия на основе
нитридов редкоземельных металлов для задач микро- и наноэлектроники, криогенные
тонкопленочные резисторы для интегральных схем и криогенных устройств, а также
технологические подходы и процессы формирования структур, направленные на
оптимизацию свойств материалов и их интеграцию в микро- и наноэлектронные системы.
Целью работы является разработка и исследование функциональных
тонкоплёночных материалов и низкоомных криогенных резисторов для микро- и
наноэлектроники. Работа включает изучение их физических и химических свойств, а
также оптимизацию технологических процессов формирования структур. Особое
внимание уделяется применению новых материалов, таких как нитриды переходных
металлов, и анализу влияния буферных слоёв на функциональные свойства
тонкоплёночных покрытий с целью повышения характеристик современных электронных
компонентных баз (ЭКБ) и устройств криоэлектроники.
В процессе выполнения НИР получены следующие результаты:
1. Разработаны термостабильные криогенные низкоомные резисторы на основе
молибдена, исследованы их свойства.
2. Установлено, что ионная активация плёнки NbN в аргоновой плазме (0,5–1,5
кэВ) обеспечивает формирование высококачественного интерфейса с молибденовыми
резисторами.
3. Показано, что алюминиевый бандаж снижает избыточное сопротивление
контактных площадок, улучшая характеристики резисторов.
4. Исследовано влияние буферного слоя ScN на свойства плёнок NbN,
изготовленных методом реактивного магнетронного осаждения.
5. Выявлено, что буферный слой ScN повышает критическую температуру
плёнок NbN (с 9 К до 12,4 К при толщине слоя ScN 20–35 нм).
6. Установлено, что критическая плотность тока в плёнках NbN достигает 8
МА/см² при толщине слоя ScN 30 нм, с последующим её снижением при увеличении
толщины.
ГРНТИ
47.09.48 Наноматериалы для электроники
47.09.53 Композиционные материалы для радиоэлектроники
Ключевые слова
криоэлектроника
тонкие пленки
буферные слои
сверхпроводники
пассивные элементы
функциональные тонкие пленки
Детали
НИОКТР
Заказчик
МИНИСТЕРСТВО НАУКИ И ВЫСШЕГО ОБРАЗОВАНИЯ РОССИЙСКОЙ ФЕДЕРАЦИИ
Исполнитель
ФЕДЕРАЛЬНОЕ ГОСУДАРСТВЕННОЕ БЮДЖЕТНОЕ УЧРЕЖДЕНИЕ НАУКИ ИНСТИТУТ НАНОТЕХНОЛОГИЙ МИКРОЭЛЕКТРОНИКИ РОССИЙСКОЙ АКАДЕМИИ НАУК
Бюджет
Средства федерального бюджета: 23 246 000 ₽
Похожие документы
Исследование физико-химических свойств компонентов многослойных структур на основе УНМ для совмещения технологическими процессами микроэлектронного производства
0.953
ИКРБС
Исследование физико-химических свойств компонентов многослойных структур на основе УНМ для совмещения технологическими процессами микроэлектронного производства
0.947
ИКРБС
Исследование поверхности и границ раздела каталитических и буферных слоев в микро- и наноэлектронных устройствах на основе углеродных наноматериалов
0.928
ИКРБС
ФИЗИКА НИЗКОРАЗМЕРНЫХ СТРУКТУР И ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ НАНОМАТЕРИАЛОВ
0.928
ИКРБС
Развитие технологии формирования и исследование наноструктур и новых компонентов наноэлектроники на основе полупроводниковых, металлических и сверхпроводниковых слоев
0.927
ИКРБС
ФУНДАМЕНТАЛЬНЫЕ ПРОБЛЕМЫ ФОРМИРОВАНИЯ МНОГОСЛОЙНЫХ АКТИВНЫХ СТРУКТУР НА ОСНОВЕ КОНТАКТОВ МЕТАЛЛОВ И ПОЛУПРОВОДНИКОВ С УГЛЕРОДНЫМИ НАНОТРУБКАМИ И ТОНКИМИ ПЛЕНКАМИ HIGH–K-ДИЭЛЕКТРИКОВ
0.925
ИКРБС
Исследование механизмов формирования, структуры, электрофизических и оптических свойств дисперсных, объемных и тонкопленочных материалов с нанокристаллической структурой на основе многокомпонентных композиций широкозонных оксидов
0.925
ИКРБС
ФИЗИКА НИЗКОРАЗМЕРНЫХ СТРУКТУР И ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ НАНОМАТЕРИАЛОВ
0.925
ИКРБС
Изготовление и исследование электрофизических низкотемпературных характеристик тонкопленочных слоев ниобия и пермаллоя
0.924
ИКРБС
Твердотельные наноструктуры для компонентной базы информационных технологий
0.923
ИКРБС