Разработка методик оценки и методов повышения устойчивости комбинационных микроэлектронных схем к одиночным сбоям. Проект РФФИ №16-08-00241

Основной целью данного исследования является разработка методов повышения сбоеустойчивости на логическом уровне комбинационных схем в базисе СБИС и ПЛИС. По результатам выполнения проекта ожидается разработка ряда новых методик для оценки сбоеустойчивости и результаты сравнения методов повышения сбоеустойчивости комбинационных схем, а именно: 1. метод вычисления верхних и нижних оценок полинома ошибки для комбинационных схем; 2. универсальный критерий архитектурной устойчивости, характеризующий сбоеустойчивость комбинационной схемы в условиях низких вероятностей ошибки на вентиле, с учетом неравномерного распределения входных комбинаций. 3. Кроме того, будут разработаны методы повышения сбоеустойчивости логических схем: 4. метод синтеза схемы по ее логической функции с использованием генетических алгоритмов, в целевую функцию которых будут включены разработанные характеристики сбоеустойчивости; 5. метод ресинтеза комбинационной схемы, подразумевающий итерационное замещение уязвимых участков схем на более устойчивые аналоги; • метод проектирования оптимальных воутеров для мажоритарных методов, учитывающий вероятностное распределение сигналов на выходах схемы. Также будут разработаны предложения по интеграции разработанных методик и методов в маршрут проектирования в базисе стандартных ячеек СБИС, а также базисе ПЛИС.