Научные основы автоматизированного проектирования диагностического обеспечения конфигурируемых на кристалле цифровых систем, содержащих встроенную память

Разрабатывается процесс автоматизированного проектирования диагностического обеспечения конфигурируемых на кристалле цифровых систем (ЦС), содержащих встроенную полупроводниковую память. Под диагностическим обеспечением понимается комплекс правил, методов, алгоритмов, программных и технических средств для решения задач диагностирования ЦС на этапах проектирования, производства и эксплуатации. Планируется создание математических моделей объектов и средств диагноза, новых методов синтеза и верификации программ тестов и инструментальных средств для автоматизированного проектирования диагностического обеспечения конфигурируемых на кристалле ЦС со встроенной памятью. Разрабатываемое в рамках данного проекта диагностическое обеспечение для конфигурируемых на кристалле цифровых систем, содержащих встроенную память, можно будет использовать в конструкторских, технологических, испытательных и эксплуатационных подразделениях научно-производственных фирм и объединений, а также в высших учебных заведениях.