Развитие методов линейной, нелинейной и дискретной дифракции световых полей для исследования параметров деформаций в структурированных микро-, нанослоях и гетероструктурах на основе сегнетоэлектрических функциональных материалов

Проект направлен на развитие методов дифракции света для характеризации упругих полей, возникающих на интерфейсах и модулированных структурах различной природы в пленочных, волноводных и слоистых системах на основе функциональных сегнето - и пьезоэлектрических материалов. Необходимость бесконтактного контроля распределения упругих полей в подобных интерфейсах и пространственно модулированных системах в оптических волноводах на сегнето - и пьезоэлектриках, а также исследования влияния упругих деформаций на свойства таких систем определяют постановку задачи проекта. Такая постановка обусловлена и необходимостью развития физических основ создания элементов и устройств фотоники с использованием управляемых деформаций в активных микро-, нанослоях и гетероструктурах на сегнето- и пьезоэлектриках. Целью проекта является исследование закономерностей, определяемых флексоэлектрическим эффектом и его вкладом в возмущения физических свойств материалов с интерфейсами типа сегнетоэлектрическая пленка/подложка, волноводный слой/объем и со структурированными системами типа голографических и периодически-поляризованных решеток в оптических волноводах на сегнето- и пьезоэлектриках. Гигантские значения градиентов упругих и электрических полей в микро- и наноструктурированных полярных материалах, и значительная анизотропия их физических свойств, приводят, вследствие флексоэлектрического эффекта, как к качественно новым явлениям, так и к существенному вкладу в возмущения физических свойств таких систем.