Исследование и развитие средств и методов повышения устойчивости к внешним воздействиям электромагнитных и ионизирующих излучений, при проектировании специализированных электронных устройств и систем Проект РФФИ №18-07-00214

Объект исследования: Предлагаемый проект направлен на решение задач повышения надежности и отказоустойчивости микросхем, предназначенных для эксплуатации в составе авиационно-космической техники и промышленной электроники.Цель работы: Основной целью предлагаемого проекта является разработка новых схемотехнических и конструктивных решений для повышения устойчивости интегральных микросхем к воздействию электростатических разрядов. Основой предлагаемого подхода является разработка комплекса новых схемотехнических решений, достаточных для построения интегрированной системы защиты микросхем от воздействия внешних дестабилизирующих факторов. Комплекс технических решений будет включать исследования уже разработанных схем защиты функциональных блоков, а также разработки новых. Разработка новых средств и методов защиты от электростатических разрядов направлена на уменьшение избыточности и увеличение скорости работы всей схемы.Ожидаемые научные результаты: Основным ожидаемым результатом проекта является разработка методов оценки сбоеустойчивости интегрированных электронных устройств, при воздействии внешних дестабилизирующих факторов. Для повышения сбоеустойчивости электронных устройств будет разработана библиотека новых конструктивных и схемотехнических решений для построения интегрированных систем защиты от дестабилизирующих внешних факторов. Планируется разработка методов синтеза, оптимизации и оценки стойкости электронных устройств с учетом взаимодействия целевых и защитных функциональных блоков.