In situ и ex situ высокоразрешающая аналитическая электронная микроскопия для изучения атомных процессов на поверхности, границах раздела и в объеме твердотельных низкоразмерных наносистем

Целью проекта является продолжение комплексных исследований, направленных на развитие фундаментальных представлений о процессах структурной и электронной самоорганизации при формировании различных низкоразмерных систем (включая литографические приёмы) на поверхности и в объёме твердотельных материалов (сетки, точки (пирамиды), гребни (пирамидальные волны), атомно-гладкие поверхности) с использованием современных in situ и ex situ методов структурного анализа (сверхвысоковакуумная отражательная электронная микроскопия (СВВ ОЭМ), высокоразрешающая просвечивающая аналитическая электронная микроскопия (ВРЭМ), сканирующая туннельная и атомно-силовая микроскопия (СТМ и АСМ), и теоретического и экспериментального изучения их электронных свойств. Полученные данные о закономерностях формирования низкоразмерных систем будут являться фундаментальной основой развития новых технологий и создания перспективных элементов нано- оптоэлектроники и спинтроники. Актуальность и научная новизна проекта связана с выбором перспективных для создания новых приборов нано-оптоэлектроники исследуемых материалов и систем, используемыми подходами и развитыми в данном коллективе уникальными методами исследований, обеспечивающими получение приоритетных фундаментальных знаний для развития новых технологий. Исследования in situ СВВ ОЭМ и ВРЭМ, позволяющие визуализировать атомные процессы в реальном масштабе времени, соответствуют мировому уровню работ по ряду направлений превосходят его.