Развитие методов нанофокусировки рентгеновских пучков источников синхротронного излучения с ультрамалым эмиттансом и когерентных методов изображения наноструктур.

Создание новых Синхротронных Источников 4-го поколения ( с ультрамалым эмиттансом) открывает новые возможности формирования высокоинтенсивных пучков СИ с нанометровым поперечным сечением и высокой степенью когерентности. Такие пучки могут эффективно использоваться для визуализации наноразмерных систем и получения структурной информации. Настоящий проект нацелен на разработку и анализ схем формирования когерентных пучков СИ нм поперечного сечения, изучение динамических дифракционных эффектов при рассеянии излучения на оптических элементах, анализ и развитие методов использования таких пучков в исследованиях нанообъектов; исследование возможностей методов когерентной дифракции в комбинации с использованием нанофокусированного пучка.Будет исследована теоретическая возможность фокусировки пучков источника СИ с ультрамалым эмиттансом с целью оценки минимальных значений поперечных размеров пучка, определения физических условий его формирования и соответствующих ограничений.В результате будут развиты методы нанофокусировки рентгеновских пучков источников СИ с ультрамалым эмиттансом и когерентные методы изображения наноструктур, что позволит внести вклад в развитие научно-технологической инфраструктуры синхротронных исследований в РФ как при проектировании, конструировании новых станций на источнике СИ 4/4+ -поколения, так и при проведении новых экспериментальных исследований на будущем источнике СИ в области нанофокусировки и когерентных приложений.