Применение дифракции синхротронного излучения для анализа структурных преобразований материалов в условиях больших пластических деформаций

Используя относительно недавно разработанные подходы к анализу формы профиля дифракционных пиков (модифицированные методы Вильямсона-Холла и Варена-Авербаха) возможно оценить значительное количество параметров микроструктуры, например, плотность дислокаций, распределение дислокаций по типу и системам скольжения, энергию дислокаций, размер областей когерентного рассеяния, величину негомогенных микроискажений кристаллической решётки и т.д. с учетом анизотропии упругих свойств материалов. В тоже время исследования такого типа требуют высококачественных дифракционных данных, получение которых возможно с использованием современных источников синхротронного излучения. Данный проект направлен на выявление структурных преобразований в условиях больших пластических деформаций путем анализа дифракцией синхротронного излучения. С применением разработанного оборудования и методик будут получены новые уникальные данные об изменении дислокационной структуры металлических сплавов от малодефектного состояния вплоть до момента их разрушения при различных скоростях деформирования.