НИОКТР
№ 121120200122-2

Разработка и изготовление стендов испытаний ЭКБ на надежность

22.11.2021

В рамках ОКР проводится разработка и изготовление стендов для проведения испытаний на надёжность ЭКБ, в частности, для проведения термоэлектротренировки и проведения испытаний на безотказность транзисторов, диодов, линейных стабилизаторов и иных изделий в различном корпусном исполнении
ГРНТИ
47.01.81 Измерения, испытания, контроль и управление качеством
Ключевые слова
испытания
надежность
безотказность
термоэлектротренировка
стенд
Детали

Начало
13.04.2021
Окончание
31.12.2023
№ контракта
020-11-2021-1458
Заказчик
МИНИСТЕРСТВО ПРОМЫШЛЕННОСТИ И ТОРГОВЛИ РОССИЙСКОЙ ФЕДЕРАЦИИ
Исполнитель
АКЦИОНЕРНОЕ ОБЩЕСТВО "НАУЧНО-ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЙ ИНСТИТУТ ЭЛЕКТРОННОЙ ТЕХНИКИ"
Бюджет
Средства федерального бюджета: 110 269 682 ₽; Собственные средства организаций: 36 796 561 ₽
Похожие документы
Рабочая конструкторская документация испытательного стенда контроля стойкости ЭКБ всех функциональных классов и модулей РЭА к специфическим проявлениям одиночных эффектов
0.910
РИД
Рабочая конструкторская документация испытательного стенда контроля стойкости ЭКБ всех функциональных классов и модулей РЭА к специфическим проявлениям дозовых эффектов
0.903
РИД
Разработка и выпуск универсального контрольно-испытательного комплекса нового поколения для проведения электротермотренировки и испытаний на безотказность изделий ЭКБ широкой номенклатуры с измерением основных параметров электрических и температурных воздействий, регистрацией и документированием основных параметров режимов испытаний
0.887
НИОКТР
Разработка тестовых структур и сложно-функциональных блоков с целью разработки методик для оценки надёжности и радиационной стойкости базовых элементов сложно-функциональной элементной базы аппаратуры космического назначения
0.868
НИОКТР
Исследование изменения характеристик выпрямительных диодов и выпрямительных мостов при воздействии специальных факторов и определение стойкости к ним на моделирующих и имитирующих установках
0.865
НИОКТР
Проектирование сложных функциональных блоков микросхем с учетом изменения электрических режимов и воздействия температуры
0.864
ИКРБС
Исследование изменения макетных образцов ряда полупроводниковых приборов и ИС при воздействии внешних факторов и определение стойкости к ним на моделирующих и имитирующих установках в соответствии с утвержденной программой-методикой испытаний
0.862
НИОКТР
Разработка методов проведения испытаний современных СБИС с большим числом слоев металлизации
0.861
НИОКТР
Исследование тестовых структур для создания аналоговых микроконтроллеров с тактовой чатотой до 100 МГц
0.860
ИКРБС
Разработка методик для оценки надёжности и радиационной стойкости базовых элементов сложнофункциональной элементной базы аппаратуры космического назначения. Проведение экспериментальных исследований тестовых структур на надёжность в условиях эксплуатации
0.860
ИКРБС