Разработка новых методов и средств исследования материалов в терагерцовом и инфракрасном диапазонах

В работе предлагается проведение следующих исследований: - Разработка новых бесконтактных методов исследования характеристик проводящей поверхности и её диэлектрического покрытия субволновой толщины; - Оптимизация метода поверхностного плазмонного резонанса для микроскопического исследования полупроводящей поверхности; - Разработка метода пассивной инфракрасной спектрометрии тонкослойных покрытий на проводящей поверхности с использованием в качестве источника излучения термостимулированных поверхностных плазмон-поляритонов; - Реализация метода регистрации фантомных изображений на однопиксельном приемнике в микроскопии поверхностного плазмонного резонанса; - Повышение энергетической эффективности акустооптических модуляторов и дефлекторов лазерного ИК и ТГц излучения, функционирующих в реальном масштабе времени; - Разработка методик эксплуатации двухканального (двухзондового) ИК фурье-спектрометра