Инжиниринг структурных и электромагнитных свойств аморфных ферромагнитных микропроводников на основе кобальта.

Аморфные ферромагнитные микропроводники в стеклянной оболочке на основе кобальта с полным диаметром до 40 мкм и диаметром металлического кора 10-25 мкм, полученные методом закалки из расплава Тейлора-Улитковского, представляют собой перспективный материал для множества технических приложений, и в частности, для миниатюрных высокочувствительных магнитных сенсоров. В настоящее время широкое применение аморфных микропроводников ограничено из-за слабой воспроизводимости их характеристик, наличия магнитного гистерезиса и существенной температурной нестабильности В данном проекте изготовление высококачественных микропроводников и инжиниринг их свойств планируется достигнуть за счет добавления в состав металлической жилы небольшого количества хрома (1% - 8%) , оптимизации технологических параметров в процессе литья и последующей дополнительной контролируемой термообработки микропроводников. Для контроля качества получаемых микропроводников будут проведены комплексные исследования микроструктуры, электрических и магнитных характеристик. Научная новизна данного подхода заключается в разработке методов непрерывного мониторинга проводящих свойств микропроводников за счет измерения электрического сопротивления и мироструктурного состояния с помощью комплексов синхротронных исследований методами рентгеноструктурного анализа и электронно-микроскопических исследований высокого разрешения