Рентгеновский наноструктурный и томографический анализ передовых материалов

Проект направлен на решение учебно-педагогических задач по подготовке кадров высшей научной квалификации и инженерно-конструкторских задач по созданию образцов передовой отечественной техники и методов рентгеновской томографии и сопряженных методов. Именно создание, освоение и использование такой техники и соответствующих методов и специфических экспериментальных конфигураций и составляет суть научного подхода данного проекта. В частности, разработка и освоение образцов передовой отечественной техники и методов томографии и сопутствующих методов опирается на ряд традиционных и оригинальных идей: - микро- и субмикрометрического разрешение при томографических исследованиях достигается при использовании стандартных приобретаемых острофокусных источников рентгеновского излучения с формированием вторичного оптического изображения за счёт явлений рентгеновской флуоресценции, причем вторичное оптическое изображение увеличивается и фиксируется цифровыми камерами; - специальные контрасты при томографии достигаются путем анализа энергетического спектра прошедшего и/или дифрагированного рентгеновского излучения с помощью специальных детекторов типа AdvaPIX; - острофокусные источники рентгеновского излучаются создаются внутри камеры типового СЭМ (в т.ч. из числа имеющих в НИТУ «МИСиС») за счёт фокусировки электронного луча на катоде; - использование существующих в РФ и РБ рентгеновских установок малоуглового рассеяния (в модальностях WAXS и SAXS) и других (томографических, монокристальных) совместно с разрабатываемыми заявителями проекта специальных отечественных устройств и приборов для исследования вещества и процессов микро- и нанометрическим разрешением, в т.ч. in situ и operando; - перенос разработанных методов и экспериментальных конфигураций в перспективе на установки синхротронного класса (КИСИ, СКИФ); - использование сопряженных методов исследования структуры вещества и процессов – рентгеновская птикография, разрушающая томография при послойном травлении ионным лучом в двухлучевых сканирующих микроскопах, EBSD, TOF-SIMS, EDX и STEM в тонких ламелях; - создание и использование специального ПО открытого доступа для управления разрабатываемыми образцами передовой отечественной техники рентгеновской томографии, автоматизированного сбора Больших данных и их дальнейшего анализа.