Разработка методик оценки коэффициентов вторичной электронной эмиссии в практических условиях источников низкотемпературной плазмы на основе разрядов постоянного тока различных конфигураций.

Методы численного моделирования на сегодняшний день являются неотъемлемой частью фундаментальных и прикладных исследований в области физики газовых разрядов и низкотемпературной плазмы, дополняя экспериментальные методы и существенно расширяя их возможности. Тем не менее, общим слабым методом этих методов и по сегодняшний день остается неопределенность в коэффициентах вторичной эмиссии электронов, определяемая недостаточным пониманием протекания процессов в неидеальных условиях, с одной стороны, и невозможностью точного контроля состояния эмитирующей поверхности в условиях газового разряда, с другой. На сегодняшний день систематическое исследование вопроса предпринималось лишь для разрядов в аргоне, и по-прежнему остается действительным общий консенсус двадцатилетней давности, предлагающий рассматривать соответствующие коэффициенты при численном моделировании разрядов и интерпретации экспериментальных данных как априори неизвестные. В предлагаемом проекте на основе систематического анализа и интерпретации большого объема данных о свойствах тлеющих разрядов постоянного тока с использованием простой аналитической и детальной самосогласованной моделей (смотри раздел «Предлагаемые методы и подходы») будут получены оценки значений коэффициентов вторичных эмиссий и степени их зависимости от экспериментальных условий для широкого набора комбинаций материала и состояния катода и типа газа.