Разработка, изготовление и тестирование опытного образца программно-аппаратного комплекса оптической дефектовки топологии электронных компонентов

Решаемая проблема заключается в низкой автоматизации процесса выходного контроля при выпуске изделий радио- и микроэлектроники и, как следствие, снижении эффективности производства из-за отсутствия оперативной корректировки параметров технологических процессов являющихся причинами брака. Целью проекта является разработка опытного образца программно-аппаратного комплекса (ПАК) дефектовки топологии электронных компонентов и модулей, позволяющего проводить выходной оптический контроль качества изделий с применением системы искусственного интеллекта. В проекте решаются научно-технические задачи создания аппаратной части системы сканирования и разработки программного обеспечения математической обработки оптических снимков инспектируемых изделий. Актуальность НИОКР обосновывается запросом подобной продукции от профильных предприятий радио- и микроэлектронной промышленности, а также Концепцией технологического развития РФ на период до 2030 года утвержденной распоряжением Правительства РФ №1315-р от 20.05.2023.