Фундаментальные, методические и программные решения для комплекса методов химического анализа природных, техногенных и космических образцов, обеспечивающих получение данных качественно нового уровня

Получение потенциально прорывных результатов в области геохимии, космохимии и др. дисциплин в существенной мере определяется возможностью получения данных качественно нового уровня: точных, с высоким пространственным разрешением и чувствительностью. Решение актуальных задач обычно достигается в результате комплексирования различных методов исследования и использования междисциплинарных подходов. Именно на таком направлении планируются работы. Так, изучение процессов глобального цикла углерода в оболочках Земли тесно связано с задачей определения рассеянного углерода в частности, в образцах коры и мантии Земли. А это подразумевает развитие комплекса различных методов локального определения углерода, его химических форм, изотопного состава. Подразумевается слияние информационных потоков разных методов для решения задач. Для валового анализа, это триада методов (рентгенофлюоресцентный, атомно-эмиссионный и масс-спектрометрический с ИСП), для локального анализа- рентгеноспектральных микроанализ, масс-спектрометрия вторичных ионов (электронный и ионный зонды) и сканирующая электронная микроскопия (СЭМ) с ЭДС. При использовании любого метода стоит задача обеспечения высокой правильности определения, что подразумевает решение обратных задач, связанных с моделированием процессов возбуждения и учета разного рода интерференций. Цель исследования- развитие комплекса методов валового элементного анализа, включающего масс-спектрометрию и атомною эмиссию с индуктивно-связанной плазмой (МС-ИСП, АЭС-ИСП), рентгено-флюоресцентный анализ (РФА) для расширения числа определяемых элементов, улучшения метрологических характеристик (точности и предела обнаружения) с использованием усовершенствованных методов пробоподготовки, новых алгоритмов компьютерной обработки результатов измерений. Консолидация результатов анализа в базе данных. Развитие комплекса методов элементного локального анализа с улучшенными метрологическими характеристиками, включающего рентгеноспектральный микроанализ (РСМА), масс-спектрометрия вторичных ионов (МСВИ), сканирующая электронная микроскопия (СЭМ-ЭДС) для образцов различной природы, включая определение летучих компонентов (С-О-Н).