Спектроскопия плазмы, газообразных сред, свободных атомов и многозарядных ионов, в том числе проблемы и задачи астрофизики и нанолитографии.

Излучение ЭУФ диапазона и мягкого рентгеновского диапазона длин волн играет важную роль в современной научной и технологической практике. Излучение с длиной 13.5 нм используется в современной оптической EUV-литографии, оптические системы в ВУФ области спектра применяются в астрономических исследованиях. Большая часть исследований в этом спектральном диапазоне до настоящего времени выполнялась на станциях синхротронного излучения. Прогресс в области коммерчески доступной лазерной техники создал предпосылки для построения компактных лабораторных источников ЭУФ излучения. Несомненным преимуществом таких плазменных лабораторных источников по сравнению с синхротронными источниками является их компактность и возможность размещения в сложных профильных лабораториях – биологических, оптических, материаловедческих. Современное развитие техники лабораторных и астрономических исследований высокотемпературной плазмы требуют новых лабораторных данных по спектрам высоко ионизованных атомов в широкой спектральной области, а также дальнейшего развития и совершенствования методов их расчетов. Актуальность исследований в диапазоне ЭУФ также связана с разработкой оптических систем, способных создавать изображения с нанометровой структурой. Одной из практических задач здесь является изучение параметров оптических материалов для ЭУФ области. Определение параметров газовых сред является важной задачей в астрофизике, экологическом мониторинге, метеорологических исследованиях, медицинской диагностике, контроле производственных процессов, разработке новых силовых агрегатов и т.п. Важнейшей задачей таких исследований является получение наиболее полного представления о зондируемой среде на основании ограниченного набора экспериментальных данных. Для многих случаев исследование газовой среды невозможно методами многолучевой томографии ввиду либо ограниченного объема, занимаемого объектом, либо, наоборот, ввиду значительной протяженности объекта или его значительной удаленности от наблюдателя. В подобных ситуациях методы трассового зондирования объекта являются единственной альтернативой. В наших исследованиях предполагается разработка методов и алгоритмов получения информации об удаленном объекте с использованием его трассового зондирования лучом перестраиваемого по длине волны излучения диодного лазера. Предполагается применение методов машинного обучения, при котором будет использованы спектроскопические базы данных простых молекул, являющихся основными компонентами исследуемых сред.