Исследование возможности проведения измерений электромагнитных параметров слабо- и сильнопоглощающих диэлектрических, ферритовых, магнитодиэлектрических материалов квазиоптическими методами в миллиметровом диапазоне длин волн и разработка методик измерений для создаваемого стенда неразрушающего контроля плоскопараллельных заготовок.

При изготовлении функциональных элементов из слабо и сильно поглощающих диэлектрических, ферритовых и магнитодиэлектрических материалов для СВЧ приборов очень важно производить контроль качества материала заготовок перед запуском их в работу. Разрабатываемые методики и измерительный стенд отличаются высокой точностью измеряемых характеристик материалов, возможностью автоматизации процесса измерения и меньшей (по сравнению с конкурентами) себестоимостью, позволив увеличить процент выхода годных СВЧ-устройств