Устройство для исследования материалов методом индикатрис светорассеяния

относится к области измерительной техники и может быть использована в химии и материаловедении для исследования наночастиц в жидких,газовых средах и твердотельных наноструктурированных материалах.позволяет повысить точность получаемых характеристик исследуемых материалов.В устройстве,содержащем источник излучения,размещенные по окружности фотоприемники, блок операционных усилителей, микроконтроллер, компьютер, держатели для установки образцов исследуемых сред и материалов, первый из которых для образцов жидких и газообразных сред, содержащих наночастицы,второй для образцов прозрачных твердотельных наноструктурированных материалов,третий для образцов непрозрачных твердотельных наноструктурированных материалов,между источником излучения и фотоприемниками по ходу излучения размещена оптическая система линз,увеличивающая диаметр луча до заданного размера,а третий держатель для непрозрачных твердотельных образцов закреплен на валу сервопривода.