РИД
№ АААА-Г17-617013110119-9Программное обеспечение программно-аппаратного комплекса для проведения исследования вольтамперных характеристик тонкопленочных образцов материалов фазовой памяти в широком температурном диапазоне
31.01.2017
Программа предназначена для автоматизации исследования вольтамперных характеристик тонкопленочных образцов материалов фазовой памяти в широком температурном диапазоне. Программа обеспечивает управление измерительными приборами, позволяет подавать напряжение на исследуемый образец, фиксирует величину измеряемого тока, осуществляет расчет удельного сопротивления, позволяет синхронизировать работу системы измерения электрофизических характеристик и систему контроля и изменения температуры, обрабатывает данные и выводит их на фронтальную панель оператора в виде значений и графиков в режиме реального времени, сохраняет результаты в файл.
ГРНТИ
47.09.29 Полупроводниковые материалы
20.53.17 Средства хранения информации
Ключевые слова
АВТОМАТИЗАЦИЯ
ВОЛЬТАМПЕРНЫЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ
ФАЗОВАЯ ПАМЯТЬ
Детали
НИОКТР
№ 114122470091
Тип РИД
Программа для ЭВМ
Ожидается
Исполнитель
Исполнители
Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Национальный исследовательский университет "Московский институт электронной техники"
Заказчик
Министерство образования и науки Российской Федерации
Похожие документы
Программный комплекс для автоматизации измерения электрических характеристик полупроводниковых ячеек
0.936
РИД
Программное обеспечение для исследования процесса переключения образцов на основе тонких пленок фазовой памяти
0.934
РИД
Программа для управления процессом измерений электрофизических характеристик импульсных твердотельных источников электромагнитного излучения
0.921
РИД
Программа для тестирования вольт-амперных характеристик углеродных композиционных материалов
0.918
РИД
Автоматизация измерений гальваномагнитных и термоэлектрических свойств пленок полуметаллов
0.913
РИД
Программа для тестирования электропроводящих композиционных пленок
0.911
РИД
Программный комплекс для автоматизации измерения оптических характеристик полупроводниковых ячеек
0.909
РИД
Управляющая программа автоматизированного измерительного комплекса магнитоимпедансной спектроскопии
0.908
РИД
Программа управления комплексом для исследования электрофизических свойств диэлектрических пленок
0.906
РИД
Программа для измерения динамики электро- и магнитооптического отклика материалов
0.906
РИД