РИД
№ АААА-Г18-618032690013-1«Расчет спектральных закономерностей коэффициентов эффективности поглощения наночастиц металла»
26.03.2018
Программа является инструментом для расчета и визуализации спектральных зависимостей коэффициентов эффективности поглощения наночастиц металла. Расчет возможен для наночастицы металла в любой прозрачной матрице и реализован для тетранитропентаэритрита (ТЭНа) и наночастиц алюминия. Программа предназначена исследователям и преподавателям, специализирующимся в области физики и химии. Программа позволяет рассчитывать: коэффициенты эффективности поглощения наночастиц задаваемого радиуса и материала в ТЭНе при облучении образца светом длиной волны 400 ÷ 1200 нм; зависимости коэффициента поглощения от радиуса наночастиц на выбранной длине волны с варьируемыми оптическими плотностями матрицы в диапазоне от 1 до 3
ГРНТИ
31.15.19 Химия твердого тела
Ключевые слова
РАСЧЕТ КОЭФФИЦИЕНТОВ ПОГЛОЩЕНИЯ
НАНОЧАСТИЦЫ
ПРОЗРАЧНАЯ МАТРИЦА
ТЭН
Детали
Тип РИД
Программа для ЭВМ
Сферы применения
Программа является инструментом для расчета и визуализации спектральных зависимостей коэффициентов эффективности поглощения наночастиц металла
Ожидается
Исполнитель
Исполнители
Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Кемеровский государственный университет"
Похожие документы
«Расчет оптических характеристик композитов на основе диэлектрика и наночастиц металла»
0.935
РИД
«Расчет 3D-профилей поглощения света в нанокомпозитах металл-диэлектрик»
0.925
РИД
Расчет оптических свойств наночастиц со структурой ядро-оболочка
0.904
РИД
Программа прогнозирования электронных спектров поглощения наночастиц металлов
0.892
РИД
Программа для расчета теоретических значений экстинкции, рассеяния, поглощения света для сферических металлических наночастиц
0.886
РИД
Программа для ЭВМ 'Спектр поглощения полупроводниковых сверхрешеток'
0.881
РИД
Программное обеспечение для расчета спектра поглощения квантовых многоямных наноструктур
0.873
РИД
Программа для расчёта спектральных характеристик коэффициентов пропускания и отражения систем тонкая пленка – оптически прозрачная подложка
0.872
РИД
Программный модуль расчета коэффициентов отражения, прохождения и поглощения в видимом диапазоне для тонких наноструктурированных пленок
0.870
РИД
Приложение для расчёта оптической ширины запрещённой зоны полупроводниковых материалов
0.868
РИД