СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ МОДУЛЯ УПРУГОСТИ МАТЕРИАЛА ПОКРЫТИЯ НА ИЗДЕЛИИ

Изобретение относится к измерительной технике для определения модуля упругости материала тонких покрытий. Поставленная задача по снижению трудоемкости и повышению точности определения модуля упругости тонкого покрытия в предлагаемом способе решается за счет обработки результатов экспериментального исследования только изделия с покрытием. Согласно этому способу измеряют толщину покрытия и модуль упругости материала основы изделия, помещают изделие в микротвердомер, с помощью которого производят внедрение алмазного пирамидального индентора в изделие, на глубину, равную толщине покрытия, записывают диаграмму внедрения (кривую нагружения) в координатах « усилие нагружения – глубина внедрения», получают массив данных параметра (𝐷эксп)𝑖=[(𝑃эксп)𝑖(𝑠𝑖)2(𝐻𝑜)ℎ] , сравнивают с теоретически рассчитанным массивом данных изменения параметра (𝐷теор)𝑖=[𝐷{𝐸∗}∙𝐷{𝐸∗=1}] (или аппроксимирующей зависимостью Dтеор = f (s/h)), для ряда дискретных значений величины контакктно