Программа для измерения спектральных характеристик материалов

18.02.2019

Программа предназначена для проведения экспериментальных исследований по измерению спектральных характеристик материалов в автоматическом режиме. Данная программа позволяет управлять длиной волны на выходе из перестраиваемого источника, монохроматором, а также осуществлять считывание значений с оптических детекторов, осуществляющих анализ оптического сигнала от исследуемых образцов. В состав программы входит пользовательский графический интерфейс для настройки режимов измерений. Режимы, результаты измерений и рассчитанные характеристики сохраняются в файлах специального формата для последующего отображения и анализа. Программа предназначена для работы на компьютере под управлением операционной системы Windows XP/7/8/10.

ГРНТИ

29.19.31 Полупроводники

29.31.26 Спектроскопические методы и методики

29.19.35 Сегнето- и антисегнетоэлектрики

29.19.22 Физика наноструктур. Низкоразмерные структуры. Мезоскопические структуры

Ключевые слова

СПЕКТРАЛЬНЫЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ

АВТОМАТИЗАЦИЯ ЭКСПЕРИМЕНТА

Детали

НИОКТР

№ АААА-А18-118031490035-3

Тип РИД

Программа для ЭВМ

Сферы применения

Целью является совмещение в одной программе модулей управления различными приборами и их совместная работа.Программа позволяет пользователю регистрировать сигнал с фотоприемника в зависимости от длины волны, установленной на монохроматоре, а также установить длину волны падающего излучения с помощью управления параметрическим усилителем.

Ожидается

Исполнитель

Исполнители

Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования «МИРЭА – Российский технологический университет»

Заказчик

Министерство образования и науки Российской Федерации

Похожие документы

Программа для измерения спектральных характеристик структур, содержащих нанообъекты

0.917

РИД

Программный комплекс для автоматизации измерения оптических характеристик полупроводниковых ячеек

0.914