РИД
№ АААА-Г19-619062690018-2Программа для расчета вольт-фарадных характеристик сегнетоэлектрических материалов в заданном интервале с использованием прецизионного LCR-метра Agilent Е4980А
26.06.2019
Программа предназначена для расчета вольт-фарадных характеристик сегнетоэлектрических материалов в интервале U = (-40...+40) V и частот переменного электрического поля f= (20- 2е6)Гц с использованием прецизионного LCR-метра Agilent Е4980А. Программа обеспечивает выполнение следующих функций: позволяет получить данные о емкости и тангенсе угла диэлектрических потерь с измеряемого образца в зависимости от смещающего напряжения (U = (-40...+40) V), частоты (f= (20- 2е6)Гц ) приложенного переменного электрического поля; позволяет осуществлять установку шага необходимого смещающего напряжения и время выдержки; позволяет осуществлять циклирование; производит расчет действительной и мнимой частей диэлектрической проницаемости; позволяет обрабатывать экспериментальные данные с последующим сохранением в текстовый файл.
ГРНТИ
29.19.43 Антиферромагнетики и слабый ферромагнетизм
29.19.35 Сегнето- и антисегнетоэлектрики
47.09.33 Сегнетоэлектрики и пьезоэлектрики
47.09.35 Магнитные материалы для радиоэлектроники
Ключевые слова
ВОЛЬТ-ФАРАДНЫЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ
ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ
СЕГНЕТОЭЛЕКТРИЧЕСКИЕ МАТЕРИАЛЫ
ТОНКИЕ ПЛЕНКИ
Детали
НИОКТР
№ 114071670003
Тип РИД
Программа для ЭВМ
Сферы применения
Программа может быть использована при исследовании и тестирования диэлектрических характеристик конденсаторных структур МДМ, МДП и МСЭМ на основе тонких пленок различного функционального назначения.
Ожидается
Исполнитель
Исполнители
Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Южный федеральный университет"
Заказчик
Министерство образования и науки Российской Федерации
Похожие документы
Программа для записи и расчета диэлектрических параметров гетероструктур в зависимости от времени с использованием измерителя LCR Agilent E4980A
0.947
РИД
Программа для расчета C(U) зависимостей конденсаторных структур с использованием LCR-метра Agilent E4980A
0.943
РИД
Программа автоматического расчета различных параметров размытия максимума диэлектрической проницаемости сегнетоэлектрических материалов, измеряемой с помощью RLC-метра Agilent E4980A
0.933
РИД
Программа автоматического расчета различных параметров размытия максимума диэлектрической проницаемости сегнетоэлектрических материалов, измеряемой с помощью RLC-метра Agilent Е4980А
0.932
РИД
Программа для исследования диэлектрических свойств сегнетопьезоматериалов с помощью прецизионного LCR-метра WayneKerr4300
0.918
РИД
Автоматическое измерение и расчет различных пьезоэлектрических параметров пьезоэлектрических материалов в интервале Т=(300-900)К с помощью RLC-метра Agilent Е4980А и термоконтроллера РТС10
0.917
РИД
Программа автоматического измерения и расчета различных пьезоэлектрических параметров пьезоэлектрических материалов при изменении величины измерительного сигнала с помощью RLC-метра Agilent Е4980А
0.909
РИД
Автоматическое измерение и расчет различных пьезоэлектрических параметров пьезоэлектрических материалов в интервале Т=(300-900)K с помощью RLC-метра Agilent E4980A и термоконтроллера PTC10
0.907
РИД
Программа управления комплексом для исследования электрофизических свойств диэлектрических пленок
0.898
РИД
Программа исследования температурной зависимости диэлектрической проницаемости конденсаторов
0.896
РИД