РИД
№ АААА-Г19-619070190042-7Способ получения сегнетоэлектрических пленок Ba1-хSrxTiO3
01.07.2019
Способ получения сегнетоэлектрической пленки относится к технологиям получения тонких пленок и может быть использован при получении сегнетоэлектрических пленок для мощной сверхвысокочастотной техники. На первом этапе распыляют мишень состава Ba1-хSrxTiO3 на подложку карбида кремния в атмосфере кислорода при давлении 2 Па и температуре подложки 700-900°С, в течение времени, достаточного для создания сплошного сегнетоэлектрического слоя. На втором этапе процесс распыления прекращается и повышается температура подложки на время, достаточное для отжига сплошного сегнетоэлектрического слоя, по окончании процесса отжига температура подложки понижается до температуры первого этапа, прочие технологические параметры не изменяются. Затем этапы повторяются несколько раз, для получения необходимой толщины сегнетоэлектрической пленки. Техническим результатом является высокая диэлектрическая нелинейность сегнетоэлектрической пленки при низких диэлектрических потерях наподложке с высокой теплопроводн
ГРНТИ
47.13.10 Технология и оборудование для производства изделий электронной техники СВЧ-диапазона
Ключевые слова
СЕГНЕТОЭЛЕКТРИКИ
СВЕРХВЫСОКИЕ ЧАСТОТЫ
СТРУКТУРИРОВАННЫЕ ПЛЕНКИ
Детали
Тип РИД
Изобретение
Сферы применения
технологии получения тонких пленок
Ожидается
Исполнитель
Исполнители
Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Санкт-Петербургский государственный электротехнический университет “ЛЭТИ” им. В.И. Ульянова (Ленина)"
Заказчик
ФЕДЕРАЛЬНОЕ ГОСУДАРСТВЕННОЕ БЮДЖЕТНОЕ УЧРЕЖДЕНИЕ "РОССИЙСКИЙ ФОНД ФУНДАМЕНТАЛЬНЫХ ИССЛЕДОВАНИЙ"
Похожие документы
Способ получения сегнетоэлектрических пленок Ba1-xSrxTiO3
0.982
РИД
Способ получения сегнетоэлектрической пленки Baх-1SrxTiO3
0.975
РИД
Сегнетоэлектрические пленки для электрооптики и элементов памяти: разработка методов формирования управляемой коэрцитивной силой
0.911
ИКРБС
Способ получения структуры тонкопленочного катода
0.905
РИД
Способ создания наноразмерных диэлектрических пленок на поверхности GaAs с использованием магнетронно сформированного слоя диоксида марганца
0.904
РИД
Способ выращивания эпитаксиальных пленок дисилицида стронция на кремнии
0.903
РИД
Способ увеличения объемной электропроводности оксидного сегнетоэлектрического материала.
0.903
РИД
Способ создания наноразмерных диэлектрических плёнок на поверхности InP с использованием оксида и фосфата марганца
0.902
РИД
Способ увеличения объемной электропроводности оксидного сегнетоэлектрического материала
0.900
РИД
Способ получения тонкой пленки CuInGaSe2 методом управляемой селенизации
0.899
РИД