РИД
№ АААА-Г19-619082290024-5

Способ создания наноразмерных диэлектрических пленок на поверхности GaAs с использованием магнетронно сформированного слоя диоксида марганца

22.08.2019

Способ создания наноразмерных диэлектрических пленок на поверхности GaAs с использованием магнетронно сформированного слоя диоксида марганца, включающий предварительную обработку пластин GaAs концентрированной плавиковой кислотой, промывание их дистиллированной водой, высушивание на воздухе, формирование слоя MnO2 толщиной 30±1 нм, последующее термооксидирование при температуре от 450 до 550°С в течение 60 мин при скорости потока кислорода 30 л/ч, отличающийся тем, что формирование слоя MnO2 производят методом магнетронного распыления мишени в атмосфере аргона при давлении порядка 10-3 Торр. Достигаемый результат: формирование наноразмерных структурированных диэлектрических пленок на поверхности GaAs со средним перепадом высот рельефа не более 25 нм, толщиной в пределах от 75 до 200 нм, удельным сопротивлением ~10^10 Ом∙см и диэлектрической прочностью ~7×10^6 В/см
ГРНТИ
47.09.29 Полупроводниковые материалы
31.17.15 Неорганическая химия
31.15.19 Химия твердого тела
Ключевые слова
АРСЕНИД ГАЛЛИЯ
ОКСИД МАРГАНЦА (IV)
МАГНЕТРОННОЕ РАСПЫЛЕНИЕ
НАНОРАЗМЕРНЫЕ ПЛЁНКИ
ТЕРМООКСИДИРОВАНИЕ
ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИЕ ПЛЁНКИ
Детали

НИОКТР
№ 01201464959
Тип РИД
Изобретение
Сферы применения
Полупроводниковая промышленность
Ожидается
Исполнитель
Исполнители
Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Воронежский государственный университет"
Заказчик
Министерство образования и науки Российской Федерации
Похожие документы
Способ создания наноразмерных диэлектрических плёнок на поверхности InP с использованием оксида и фосфата марганца
0.973
РИД
Способ создания наноразмерных наноструктурированных оксидных пленок на InP с использованием геля пентаоксида ванадия
0.932
РИД
Способ прецизионного легирования тонких плёнок на поверхности арсенида галлия
0.925
РИД
Способ получения покрытий из диоксида марганца на танталовых анодах оксидно-полупроводниковых конденсаторов
0.917
РИД
Способ получения пленки оксида магния MgO с атомной структурой поверхности (110) – MgO(110) - толщиной от 1 до 10 нанометров
0.916
РИД
Способ прецизионного легирования тонких плёнок на поверхности InP
0.914
РИД
Способ получения наноразмерной пленки гамма-Al2O3(111)
0.912
РИД
Способ получения высокоэнтропийной тонкой пленки на диэлектрической подложке
0.911
РИД
Способ получения Max-фазы (Cr0,9Mn0,1)2GaC с использованием микроволновой плазмы
0.910
РИД
Способ получения пленок пористого кристаллического диоксида олова
0.908
РИД