Методика измерения коэффициента отражения лазерного излучения вблизи угла Брюстера для контроля качества повехностей оптически прозрачных диэлектриков

17.09.2020

Методика описывает последовательность операций для точного измерения угловой зависимости коэффициента отражения монохроматического излучения от поверхности оптических материалов. Измеренные с помощью данной методики зависимости обеспечивают, согласно способу, описанному нами ранее в патенте на изобретение № 2703830 от 29.03.2019, оперативный контроль качества функциональных поверхностей как аморфных, так и монокристаллических оптических материалов. Для проведения измерений не требуется сложное измерительное оборудование или длительное время измерений.

ГРНТИ

29.31.29 Формирование оптического изображения. Оптические приборы и оптические методы измерений

29.19.11 Дефекты кристаллической структуры

29.19.16 Физика тонких пленок. Поверхности и границы раздела

Ключевые слова

ОПТИЧЕСКИЙ МАТЕРИАЛ

ПРИПОВЕРХНОСТНЫЙ ПОВРЕЖДЕННЫЙ СЛОЙ

УГОЛ БРЮСТЕРА

КОЭФФИЦИЕНТ ОТРАЖЕНИЯ

Детали

НИОКТР

№ АААА-А17-117030310112-0

Тип РИД

Секрет производства (ноу хау)

Сферы применения

Описанная методика может использоваться в производстве оптических приборов. Способствует оптимизации времени обработки элементов, повышению качества выпускаемой продукции.

Ожидается

Исполнитель

Исполнители

Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Новосибирский национальный исследовательский государственный университет"

Заказчик

Министерство образования и науки Российской Федерации

Похожие документы

Способ неразрушающего контроля качества приповерхностного слоя оптических материалов

0.901

РИД

Способ определения показателя преломления монохроматической поверхностной электромагнитной волны инфракрасного диапазона

0.892

РИД

Методика оперативного контроля ориентации кристаллографических осей в оптически прозрачных кристаллических образцах

0.889

РИД