РИД
№ АААА-Г20-620100590095-9Способ изготовления полупроводникового прибора
05.10.2020
Изобретение относится к области технологии производства полупроводниковых приборов, в частности к технологии изготовления полевых транзисторов с пониженной дефектностью.
ГРНТИ
29.19.31 Полупроводники
Ключевые слова
Полупроводники
полевой тарнзистор
пониженный дефектность
Детали
Тип РИД
Изобретение
Сферы применения
Способ изготовления полупроводникового прибора, включающий подложку, процессы формирования областей стока, истока, затвора, контактов к этим областям и подзатворного оксида, отличающийся тем, что подзатворный оксид формируют при температуре 1060°С путем введения в окислительную среду трихлорэтилена по следующей схеме: сначала проводят окисление при потоке кислорода (сухой) 100 см3/мин в течение 5 мин, затем окисление при потоке кислорода (сухой) 1000 см3/мин и введении в окислительную среду трихлорэтилена при скорости потока 40-50 см3/мин в течение 60 мин, с последующим окислением при потоке кислорода (сухой) 1000 см3/мин в течение 15 мин и термообработкой в азоте при температуре 625°С в течение 15 мин.
Ожидается
Исполнитель
Исполнители
Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Чеченский государственный университет"
Заказчик
МИНИСТЕРСТВО НАУКИ И ВЫСШЕГО ОБРАЗОВАНИЯ РОССИЙСКОЙ ФЕДЕРАЦИИ
Похожие документы
Способ изготовления полупроводникового прибора
0.987
РИД
Способ изготовления полупроводникового прибора
0.974
РИД
Способ изготовления полупроводникового прибора
0.973
РИД
Способ изготовления полупроводникового прибора
0.968
РИД
Способ изготовления полупроводникового прибора
0.967
РИД
Способ изготовления полупроводникового прибора
0.967
РИД
Способ изготовления полупроводникового прибора
0.966
РИД
Способ изготовления полупроводникового прибора
0.964
РИД
Способ изготовления полупроводникового прибора
0.964
РИД
Способ изготовления полупроводникового прибора
0.962
РИД