Патент 2696360. Способ неразрушающего контроля качества сверхбольших интегральных схем по значению критического напряжения питания

27.11.2020

Изобретение относится к микроэлектронике и может быть использовано для обеспечения качества и надежности сверхбольших интегральных схем. Измеряют критическое напряжение питания при нормальной и повышенной температуре. СБИС предварительно программируют тестирующей программой для раздельного диагностирования блоков СБИС. Измеряют критическое напряжение питания выбранного блока. На зависимости КНП от температуры выделяют информативную область, по площади которой оценивают надежность С БИС.

ГРНТИ

59.45.33 Приборы для неразрушающего контроля изделий и материалов электрическим методом

59.45.31 Приборы для неразрушающего контроля изделий и материалов тепловым методом

47.33.33 Оптоэлектронные приборы

Ключевые слова

сверхбольшие интегральные схемы

критическое напряжение питания

диагностика

Детали

НИОКТР

№ АААА-А16-116060210015-3

Тип РИД

Изобретение

Сферы применения

Изобретение может быть использовано для разбраковки цифровых ИМС по критерию потенциальной ненадежности как на этапе производства, так и на входном контроле на предприятиях-изготовителях радиоэлектронной аппаратуры.

Ожидается

Исполнитель

Исполнители

Ульяновский филиал Федерального государственного бюджетного учреждения науки Института радиотехники и электроники им. В.А.Котельникова Российской академии наук

Заказчик

Федеральное агентство научных организаций

Похожие документы

Патент 2761863 Способ неразрушающей диагностики дефектов сквозного металлизированного отверстия печатной платы

Диагностические методы оценки качества и надежности с использованием метода критического напряжения питания

0.899

Диссертация

патент 2787306 Способ сравнительной оценки стойкости партий интегральных схем к электростатическому разряду