Способ определения толщины и постоянной роста титаноксидного покрытия, нанесенного методом молекулярного наслаивания на торец кварцевого оптического волокна

Изобретение относится к области тонкопленочных технологий и связано с разработкой экспресс-контроля в режиме «in situ» толщины и постоянной роста функциональных нанопокрытий, формируемых на торце оптического кварцевого волокна, и может быть использовано при создании волоконно-оптических датчиков давления, влажности, деформации с повышенной надежностью. Целью изобретения является определение толщины и постоянной роста синтезируемого на торце оптоволокна титаноксидного покрытия в режиме «in situ» в зависимости от количества циклов молекулярного наслаивания. Это достигается путем регистрации отраженной мощности лазерного излучения от торца оптоволокна в процессе проведения молекулярного наслаивания.