РИД
№ 621063000018-5FractalSurface: программа для анализа поверхности на наноуровне
30.06.2021
Программа предназначена для определения фрактальной размерности поверхности различных по природе материалов, как комплексной характеристики поверхности, а также высотных параметров. Фотографии поверхности на наноуровне могут быть получены с использованием различных методов, в части с использованием атомно-силовой и туннельной микроскопии с обязательной привязкой размеров поверхности и масштабирования по высоте. Программа апробирована в ФГБОУ ВО «Тверской государственный университет» и может быть использована в вузах и научно-исследовательских организациях, деятельность которых связана с изучением поверхности различных материалов на наноуровне.
ГРНТИ
53.39.03 Теория процессов порошковой металлургии
28.17.23 Моделирование физических процессов
29.19.22 Физика наноструктур. Низкоразмерные структуры. Мезоскопические структуры
Ключевые слова
наномасштаб
поверхность
высотные параметры
фрактальная размерность
Детали
Тип РИД
Программа для ЭВМ
Сферы применения
Компьютерное моделирование наночастиц
Ожидается
Исполнитель
Исполнители
Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Тверской государственный университет"
Заказчик
МИНИСТЕРСТВО НАУКИ И ВЫСШЕГО ОБРАЗОВАНИЯ РОССИЙСКОЙ ФЕДЕРАЦИИ
Похожие документы
FractalSurface 2.0: программа для анализа поверхности на наноуровне
0.965
РИД
Fractal domains Pro: программа анализа 2D микрофотографий поверхности и определения ее фрактальной размерности
0.921
РИД
Программа расчета фрактальной размерности покрытий различного функционального назначения
0.883
РИД
Исследование изображений микроструктур с помощью фрактального анализа (Fractal analysis of microstructures)
0.871
РИД
Программа для количественной оценки фрактальности наноразмерных структур
0.869
РИД
Программа для фрактального анализа трехмерных изображений для микротомографа
0.868
РИД
Программа для фрактального и мультифрактального анализа АСМ изображений поверхности тонких пленок
0.868
РИД
Программа для расчета фрактальной размерности
0.860
РИД
Программа для расчета мультифрактальных параметров сетки плоских сечений межзеренных границ керамических сегнетоактивных материалов
0.854
РИД
Расчёт функции спектральной плотности мощности профилей поверхности наноостровковой плёнки заданной морфологии
0.852
РИД