Peak 2.0

23.12.2021

Программа предназначена для расчёта структурных параметров сложных соединений (состоящее из двух и более), имеющих непрерывный ряд твердых растворов. Область применения сводиться к материаловедению, в частности, экспресс определению кристаллографических характеристик материала. В общем виде программа делится на четыре логических блока: • расчет положения рентгенографических рефлексов (пиков), при заданном компонентном составе (доле каждого вещества в системе). • расчет состава твердого раствора по программно-идентифицированным рефлексам на рентгенограмме в графическом виде. • редактирование имеющихся данных. • удаление/просмотр имеющихся данных

ГРНТИ

29.19.35 Сегнетоэлектрики и антисегнетоэлектрики

29.19.16 Физика тонких пленок. Поверхности и границы раздела

Ключевые слова

СВЧ устройства

сегнетоэлектрические тонкие пленки

системы телекоммуникаций

Детали

НИОКТР

№ 121072900044-2

Тип РИД

Программа для ЭВМ

Сферы применения

материаловедение, в частности, экспресс определению кристаллографических характеристик материала

Ожидается

Исполнитель

Исполнители

Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Санкт-Петербургский государственный электротехнический университет “ЛЭТИ” им. В.И. Ульянова (Ленина)"

Заказчик

Похожие документы

Peak

0.955

РИД

Определение параметров кристаллической решетки с использованием метрического тензора

0.849

РИД

Программа для расчета степени кристалличности различных веществ по данным рентгеновского дифрактометрического анализа

0.845

РИД

Программа по количественному и качественному дифракционному фазовому анализу образцов в системе с цеолитами