РИД
№ 622011100212-6Акустический микроскоп
11.01.2022
Изобретение относится к устройствам для исследования и анализа материалов с помощью ультразвуковых колебаний, а именно к акустическим микроскопам.
Акустическая микроскопия - есть совокупность способов визуализации микроструктуры и формы малых объектов с помощью ультразвуковых и гиперзвуковых волн. Акустическая микроскопия основана на том, что ультразвуковые волны, прошедшие, отраженные или рассеянные отдельными участками объекта, имеют различные характеристики (амплитуду, фазу) в зависимости от локальных вязкоупругих свойств образца. Эти различия позволяют методами визуализации звуковых полей получать акустические изображения, восстанавливаемые компьютером на экране дисплея.
Задачей, изобретения является разработка устройства с повышенным качеством получаемого изображения исследуемого объекта за счет повышения разрешающей способности акустической формирующей системы.
Технический результат, который может быть получен при выполнении заявленного устройства - улучшение разрешающей способности акустических систем построения изображения исследуемых объектов.
ГРНТИ
29.31.01 Общие вопросы
Ключевые слова
волна
звук
поле
Детали
Тип РИД
Изобретение
Сферы применения
Изобретение относится к устройствам для исследования и анализа материалов с помощью ультразвуковых колебаний, а именно к акустическим микроскопам.
Ожидается
Исполнитель
Исполнители
ФЕДЕРАЛЬНОЕ ГОСУДАРСТВЕННОЕ БЮДЖЕТНОЕ ОБРАЗОВАТЕЛЬНОЕ УЧРЕЖДЕНИЕ ВЫСШЕГО ОБРАЗОВАНИЯ "СИБИРСКИЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ УНИВЕРСИТЕТ ГЕОСИСТЕМ И ТЕХНОЛОГИЙ"
Похожие документы
Сканирующий акустический микроскоп
0.920
РИД
Сканирующий акустический микроскоп
0.915
РИД
Сканирующий акустический микроскоп
0.897
РИД
АКУСТИЧЕСКАЯ ЛИНЗА
0.895
РИД
Оптоакустический зонд на основе линзы аксикона для оптоакустической
микроскопии оптического разрешения
0.893
РИД
Акустический микронасос
0.891
РИД
Оптоакустический микроскоп для биоимиджинга
0.887
РИД
АКУСТИЧЕСКИЙ МУЛЬТИКАНАЛЬНЫЙ АНАЛИЗАТОР МИКРОПРОБ ЖИДКИХ СРЕД
0.881
РИД
Акустический диод
0.879
РИД
Разработка методов характеризации структурно–механических свойств материалов наноэлектроники методами акустической микроскопии
0.876
НИОКТР