РИД
№ 622021000082-5Программа расчета полной группы поляризационных инвариантов матрицы рассеяния на основе экспериментальных данных
10.02.2022
Программа предназначена для обработки экспериментальных данных, полученных при радиолокационном измерении невзаимных сред и расчета полной группы поляризационных инвариантов матрицы рассеяния
ГРНТИ
47.05.17 Методы приема и обработки сигналов
Ключевые слова
РАДИОЛОКАЦИОННЫЕ ИЗМЕРЕНИЯ
НЕВЗАИМНЫЕ СРЕДЫ
РАСЧЕТ ПОЛЯРИЗАЦИОННЫХ ИНВАРИАНТОВ
МАТРИЦА РАССЕЯНИЯ
Детали
Тип РИД
Программа для ЭВМ
Сферы применения
Программа может использоваться для расчет поляризационных инвариантов и графического отображения результатов
Ожидается
Исполнитель
Исполнители
Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Томский государственный университет систем управления и радиоэлектроники"
Заказчик
МИНИСТЕРСТВО НАУКИ И ВЫСШЕГО ОБРАЗОВАНИЯ РОССИЙСКОЙ ФЕДЕРАЦИИ
Похожие документы
Программа для вычисления матрицы рассеяния гауссова пучка на последовательности плоских однородных объектов
0.871
РИД
Программа для определения пространственного распределения интенсивности и поляризационных характеристик обратно рассеянной монохроматической волны регистрируемой кольцевым детектором с угловой селективностью
0.869
РИД
Программа для расчета эффективных параметров поляризационной системы
0.866
РИД
Программа экстракции первичных параметров по измеряемой матрице рассеяния
0.864
РИД
Программа для расчета матриц рассеяния света для выпуклых и невыпуклых кристаллических частиц в приближении геометрической оптики с учетом поглощения
0.862
РИД
Программа расчёта спектров комплексных магнитной и диэлектрической проницаемостей материалов по измеренным S-параметрам
0.862
РИД
Программа для расчёта матриц обратного рассеяния света для атмосферных кристаллических агрегатных частиц
0.857
РИД
Программа построения поляризационных зависимостей сигнала второй гармоники
0.854
РИД
Расчет поляризационных свойств линейных фазовых пластинок из оптически анизотропных одноосных материалов
0.853
РИД
Программа расчёта поляризационных свойств слоистых отражающих структур и моделирования спектров эллипсометрии
0.851
РИД