Измерение электронных транспортных свойств металлических и полупроводниковых материалов

Программа разработана для автоматического измерения электронных транспортных свойств металлических и полупроводниковых материалов, таких как сплавы Гейслера, Вейлевские полуметаллы, топологические изоляторы и т.п. В программе реализован учет различного рода особенностей, связанных как с материалом образцов (например, большая величина «паразитного» термоэлектрического эффекта некоторых систем), так и с самим процессом измерений (например, «шум», приводящий к большому разбросу измеряемых величин). Данная программа полностью автоматизирует измерительный процесс. Программа универсальна и интерфейсно независима, поддерживает любые соответствующие приборы, имеющие возможность подключения к ПК